近紅外光譜已經(jīng)廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)、農(nóng)業(yè)、制藥以及食品安全等領(lǐng)域的定性及定量物質(zhì)分析。然而近紅外光譜儀一直以來都因?yàn)轶w積大、價(jià)格高等問題限制了其在消費(fèi)級產(chǎn)品中的應(yīng)用。如今隨著MEMS和ASIC技術(shù)的發(fā)展,Si-Ware公司推出了世界上zui小的芯片級傅里葉紅外光譜儀NeoSpectra Micro。這一突破不僅將紅外光譜儀的體積縮小到了指甲蓋大小的級別,也將產(chǎn)品價(jià)格降到了消費(fèi)級產(chǎn)品可以接受的區(qū)間。NeoSpectra Micro的創(chuàng)新設(shè)計(jì)也必將在智能家居、智慧農(nóng)業(yè)、可穿戴設(shè)備、健康監(jiān)測等領(lǐng)域革命性的發(fā)展。
那什么是傅里葉變換紅外光譜呢?
近紅外是介于可見光和中紅外之間的電磁輻射波,波長范圍0.76~2.5μm。每種物質(zhì)分子由于其組成和結(jié)構(gòu)的不同決定了其對近紅外光都有*的響應(yīng),即這一分子的紅外吸收光譜。傅里葉變換紅外光譜(簡寫為FT-IR)是對干涉后的紅外光進(jìn)行傅里葉變換來測定紅外光譜的光譜分析方法。傅立葉變換紅光譜具有高檢測靈敏度、高測量精度、高分辨率、測量速度快、散光低以及波段寬等特點(diǎn)。
MEMS又是什么黑科技?
微電子機(jī)械系統(tǒng)(MEMS)是基于芯片的電子機(jī)械元件。依托于半導(dǎo)體微細(xì)加工技術(shù)發(fā)展而來,并融合了光刻、腐蝕、薄膜、LIGA、硅微加工、非硅微加工和精密機(jī)械加工等先進(jìn)的制作工藝。在過去的幾十年中,MEMS芯片為幾個(gè)行業(yè)帶來了革命性的變化,現(xiàn)在,MEMS芯片可以在眾多電子和光學(xué)設(shè)備中找到。
MEMS
FT-IR光譜儀是如何工作的?
傅立葉變換紅外光譜儀的核心是一個(gè)雙光束光學(xué)干涉儀名叫邁克耳孫干涉儀。 分束器將入射光束分成兩路:一束經(jīng)透射到達(dá)動鏡,另一束經(jīng)反射到達(dá)定鏡。兩束光分別經(jīng)定鏡和動鏡反射再回到分束器,動鏡以一恒定速度作直線運(yùn)動,因而經(jīng)分束器分束后的兩束光形成光程差,產(chǎn)生干涉。干涉光在分束器會合后通過樣品池,通過樣品后含有樣品信息的干涉光到打探測器,然后通過傅里葉變換對信號進(jìn)行處理,zui終得到紅外吸收光譜圖。
FT-IR + MEMS = NeoSpectra Micro
在NeoSpectra Micro 微型傅里葉紅外光譜儀中,所有光學(xué)和機(jī)械組件都集成在單個(gè)MEMS芯片上,從而實(shí)現(xiàn)芯片級FT-IR功能。 單片集成通過使用Si-Ware公司專有的硅集成微光系統(tǒng)技術(shù)(SiMOST)平臺來實(shí)現(xiàn)。
NeoSpectro Micro
NeoSpectra Micro產(chǎn)品性能
波長范圍 | PSD*>max PSD/10 | 1350-2500 | nm |
分辨率 | 波長1550nm,F(xiàn)WHM標(biāo)準(zhǔn) | 16 | nm |
典型信噪比(rms) | 2s 信號采集時(shí)間,波長2050nm | 2000:01:00 | - |
溫度 | 運(yùn)行 | -5 ~ 40 | ℃ |
波長精度 | 波長1400nm,溫度<40℃ | ±1.5 | nm |
波長重復(fù)性 | 波長1400nm,吸光度水平 = 0.5 A.U. | ±0.1 | nm |
芯片級FT-IR光譜儀NeoSpectra Micro的應(yīng)用領(lǐng)域
對于新產(chǎn)品開發(fā)我們可以提供的支持
為了支持用于更快速更便捷的基于NeoSpectra Micro 開發(fā)智能產(chǎn)品,我們特別推出了即插即用型的NeoSpectra Micro開發(fā)套件。
NeoSpectra Micro Development Kit
*在一塊PCB開發(fā)板上集成光學(xué)核心模塊
*光學(xué)核心模塊上面集成照明光源和自由光采集透鏡
*SPI通信接口及控制輸出
*可通過SPI直接與樹莓派微型電腦連接
*免費(fèi)提供SpectroMOST軟件及SDK