共焦拉曼顯微鏡

Examine R 高性能共焦拉曼顯微鏡

正置ExamineR （含Raman Mapping）

      Examine R特別適合于生命科學，地質學，納米科學，和半導體，刑偵應用?？梢宰鑫^(qū)化學分析。

       Examine R拉曼顯微鏡采用Olympus顯微鏡，匹配DeltaNu高性能拉曼光譜儀，構成一套高性能的拉曼顯微鏡，由于同時具有非常合理價格的優(yōu)勢，成為業(yè)內高性能價格比拉曼顯微鏡的者

圖片：帶遮光系統(tǒng)的Examine R高性能拉曼顯微鏡

本系統(tǒng)可以方便的更換532，785，1064nm激光模組和光譜探測模組，用戶不會像某些廠家的產(chǎn)品遇到繁瑣的更換激光，光柵或探測器的問題。

  產(chǎn)品特點：

1. 532，785，1064nm激光模組

2. 激光功率控制

3. 高光譜分辨率

4. 全固化光路，超級穩(wěn)定

5. 1064nm 一次攝譜范圍200-2000波數(shù)（匹配高性能制冷InGaAs CCD）

6.  785nm一次攝譜范圍200-2000波數(shù)（或100-2000波數(shù)），匹配高性能近紅外靈敏制冷CCD

7. 532nm一次攝譜范圍200-3400波數(shù)，匹配高性能制冷CCD

8. 顯微鏡空間分辨率達到衍射限

9. 自動X-Y-Z平臺，實現(xiàn)高精度共焦拉曼影像掃描（Raman Mapping）

10. 顯微鏡附帶高性能影像CCD用于可視化調節(jié)

11. 可選3D影像重構功能。

12. 可做溶液環(huán)境下顯微拉曼

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資料舉例：

• ExamineR產(chǎn)品樣本
• ExamineR測試半導體晶片缺陷（簡介：zui近幾年，微電子器件的加工尺度已經(jīng)從45nm減小到32nm, 由于芯片刻蝕，晶片轉運等工藝過程均可能帶來納米尺度的污染從而導致器件失效，分析缺陷點包括金屬微粒分析，有機或無機微粒分析。 顯微拉曼是一種非常有效的分析晶片材料結構和污染微粒組份與空間分布的手段，從而為用戶提供了分析污染來源并改善工藝，提升良品率的實驗平臺）
• ExamineR測試非晶態(tài)硅用于太陽能電池研究（采用顯微拉曼光譜法測試太陽能電池材料，可以用于優(yōu)化工藝參數(shù)，從而提升太陽能電池的轉化效率和使用壽命）
• ExamineR測試礦石包裹體及拉曼影像（簡介：高靈敏度顯微拉曼測試礦石包裹體內含的微小固，液，氣相的組份為用戶提供了一個方便快捷，幾乎無需樣品制備的實驗手段）